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YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪

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   详细介绍

一、概述: 
    YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点,是我公司的第三代智能化介质损耗测试仪。
二、特点:
  YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV~10KV五档可调,以适应各种需要,在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似,但比其方便。
  标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。
数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。
三、技术参数:
1、抗干扰方式:变频抗干扰
2、测试方式:正接法  反接法  自激法  外接法 
3、测量范围:    
   电容量:内接高压  <3pF~60000pF/10kV   60pF~1μF/0.5kV
   外接高压  3pF~0.3μF/10kV    最小分辨率 0.01pF  有效数字五位  
   介损:不限,最小分辨率0. 01%
4、准确度:
   电容量:±(1.5%读数+2pF)        介损:±(2%读数+0.09%)
   内接试验电源:0.5~10kV  电压缓升缓降      45、50、55、60、65Hz单频  
   45/55Hz自动双频测试        最大输出电流200mA
   自激电源3~50V变频          最大输出电流20A
5、测量时间:约30秒(与测量方式有关)   
6、输入电源:供电电源180~240VAC   50Hz(市电或发电机供电)
7、工作环境:温度范围:-10℃~50℃     相对湿度<90%

 

 

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